Yeni Nesil Yarı İletkenler İçin Entegre Test Çözümleri

Probe card testinden SiC ve GaN güç bileşenlerine, elektriksel ve termal doğrulama tek platform yaklaşımıyla genişliyor

  • Tedarikçi Seica SpA
  • Ekim 9, 2026
  • 76 Görüntüleme
  • Yeni Nesil Yarı İletkenler İçin Entegre Test Çözümleri
    Yeni Nesil Yarı İletkenler İçin Entegre Test Çözümleri

SEICA, yarı iletken endüstrisine yönelik yeni nesil test çözümlerini 13-15 Ekim 2026 tarihlerinde San Francisco'daki SEMICON West fuarında sergilemeye hazırlanıyor. Şirket; probe card üretim süreçlerine yönelik yeni Flying Probe PILOT çözümünün yanı sıra güç yarı iletkenlerinin elektriksel ve termal karakterizasyonuna odaklanan S20 IS³ ve S20 RTH sistemlerini tanıtacak. Çözümler, Ar-Ge aşamasından yüksek hacimli üretime kadar SiC ve GaN gibi yeni nesil bileşenlerde test doğruluğu, izlenebilirlik ve üretim verimliliğini desteklemeyi amaçlıyor.

Probe Card Üretim Sürecini Baştan Sona Test Eden Flying Probe
Probe Card Test için geliştirilen Flying Probe PILOT, donanım ve yazılım yeteneklerini tek platformda birleştirerek üretim sürecinin farklı aşamalarında test yapılmasına olanak tanıyor. Sistem; montaj öncesinde MLO (multilayer organic) ve PCB kartlarının ayrı ayrı test edilmesini, montaj sonrasında ise in-circuit (ICT) ve fonksiyonel testlerin gerçekleştirilmesini destekliyor.

Son doğrulama aşamasında PCB ile MLO birlikte test ediliyor ve MLO-PCB arayüzündeki her bağlantı ICT yöntemiyle kontrol edilebiliyor. Sistem, ağ uzunlukları veya MLO bileşenlerinden kaynaklanan direnç farklılıklarını dikkate alarak özel test programlarını otomatik oluşturabiliyor. DSP tabanlı ölçüm teknolojisi ve yüksek hızlı kapasitif test özellikleri ise karmaşık probe card uygulamalarında hassas ve tekrarlanabilir ölçümleri destekliyor.
SiC ve GaN Güç Bileşenleri İçin Tek Kutuda Statik ve Dinamik Test
S20 IS³, SiC ve GaN gibi ayrık güç yarı iletkenlerinin elektriksel karakterizasyonu için geliştirilen bir test sistemi. Statik DC ve dinamik AC testlerini tek bir platformda bir araya getiren “one-box” yaklaşımı, temel elektriksel parametrelerin aynı sistem üzerinden ölçülmesini sağlıyor.
Modüler ve ölçeklenebilir yapı, ihtiyaçlara göre test yeteneklerinin genişletilmesine ve saat başına test edilen birim sayısının (UPH) artırılmasına olanak tanıyor. Menü tabanlı yazılım test kurulumunu kolaylaştırırken, entegre osiloskop gibi araçlar hata ayıklama süreçlerini ve sonuçların izlenebilirliğini destekliyor.

Güç Yarı İletkenlerinde Termal Direnç ve Bağlantı Sıcaklığı Analizi
S20 RTH sistemi, güç bileşenlerinin termal davranışını değerlendirmek için termal direnç karakterizasyonunu gelişmiş güç ve soğutma yönetimiyle bir araya getiriyor. Sistem yalnızca ürün doğrulama ve karakterizasyon çalışmalarında değil, üretim ortamında da kullanılabiliyor.

MOSFET, BJT ve IGBT gibi güç yarı iletkenlerinde verimlilik kadar bağlantı (junction) sıcaklığı da güvenilirlik açısından kritik önem taşıyor. S20 RTH, anahtarlamalı güç kaynaklarında çalışan güç MOSFET'lerinin termal stresini değerlendiriyor. Ölçülen verilerin cihazın fiziksel özellikleriyle birlikte analiz edilmesi; bağlantı sıcaklığının öngörülmesine, uygun termal marjların ve soğutucu gereksinimlerinin belirlenmesine yardımcı oluyor.

Üretim Ekosistemine Entegre VIVA Yazılım Platformu
Sistemlerin tamamında kullanılan VIVA™ yazılım platformu, test altyapısının üretim ekosistemiyle entegre çalışmasını destekliyor. MES etkileşimi, izlenebilirlik, gerçek zamanlı veri toplama ve onarım operasyonları aynı yazılım altyapısı üzerinden yönetilebiliyor.
Platformda yer alan yapay zeka tabanlı tanılama geliştirmeleri, hata tespitinin iyileştirilmesini ve optimize edilmiş test stratejilerinin önerilmesini hedefliyor. Böylece test sistemleri yalnızca ölçüm yapan bağımsız ekipmanlar olmaktan çıkarak üretim verilerinin daha geniş bir dijital altyapı içinde değerlendirilmesine katkı sağlıyor.

Ar-Ge'den Yüksek Hacimli Üretime
1986 yılında kurulan Seica, elektronik kartlar, modüller ve yarı iletkenlere yönelik test sistemleri geliştiriyor. Şirketin çözümleri otomotiv, elektrikli araçlar, telekomünikasyon, tüketici elektroniği, enerji, ulaşım ve savunma gibi farklı sektörlerde kullanılıyor; portföyünde yüksek yoğunluklu probe card ve wafer testine yönelik özel sistemler de bulunuyor.
2026'da 40. yılını kutlayan şirket, SEMICON West 2026 kapsamında yeni test teknolojilerini 238 numaralı standında sektör profesyonelleriyle buluşturacak.

Feragatname: TIM Global Media tarafından yayımlanan içerikler, metinler, görseller ve videolar dâhil olmak üzere, şirket içinde üretilmekte veya Tedarikçilerin onayıyla sağlanmaktadır. Tedarikçiler, sağladıkları materyallerin üçüncü şahıs haklarını ihlal etmediğini taahhüt eder ve bu kapsamda doğabilecek her türlü iddia karşısında TIM Global Media’yı tazmin etmeyi ve sorumluluktan muaf tutmayı kabul eder.

Paylaşmak:

Onur Dil

Editör

Endüstri-Dünyası’nın amacı; endüstriyel mühendisliğine dünyanın her yerinde üretilip Türkiye pazarına sunulan yeni ürünler ve hizmetler ile ilgili bilgi vermektir. Eğer siz de firmanızın yeni ürünlerinin Endüstri Dünyası’nda yer almasını istiyorsanız lütfen teknik basın bültenlerinizi editörlerimize gönderin.

Ürün yazılarımız ile ilgili görüşleriniz ve önerileriniz var ise lütfen editorlerimizle irtibata geçiniz.

Daha Fazla Yazı İletişim